免費論文查重認(rèn)準(zhǔn)CNKI論文查重,專為高校論文檢測、畢業(yè)論文查重、碩士論文查重誕生的論文檢測入口平臺,CNKI論文查重系統(tǒng)涵蓋海量的數(shù)據(jù)庫,為畢業(yè)生解決各種煩惱,論文查重軟件免費為各種有論文檢測、論文查重需求的人提供,論文查重認(rèn)準(zhǔn)CNKI查重!
發(fā)布時間:2022-04-02 20:06:58 作者:知網(wǎng)小編 來源:educationmanagementsystem.com
幾乎在所有探測器中都存在這種噪聲。 它主要出現(xiàn)在大約 1KHz以下的低頻頻域,而且與光輻射的調(diào)制頻率f成反比,故 稱為低頻噪聲或1/f 噪聲。 實驗發(fā)現(xiàn),探測器表面的工藝狀態(tài) (缺陷或不均勻等)對這 種噪聲的影響很大,所以有時也稱為表面噪聲或過剩噪聲。 一般說,只要限制低頻端的調(diào)制頻率不低于1千赫茲,這 種噪聲就可以防止。 1)產(chǎn)生原因 ?電流噪聲的均方值可用經(jīng)驗公式表示為: 為比例系數(shù),與探測器制造工藝、電極接觸情況、半導(dǎo)體表面狀態(tài)及器件尺寸有關(guān);a為與材料有關(guān)的常數(shù),通常在0.8— —1.3之間,大多數(shù)材料可近似取為1;b與流過器件的電流I有關(guān), 通常取值2; ?主要出現(xiàn)在lkHz以下的低頻區(qū)。 2)度量1)產(chǎn)生原因 熱探測器通過熱導(dǎo)G與處于恒定溫度的周圍環(huán)境交換熱能。